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IMPACT-Ⅱ型半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)檢定規(guī)程

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ 20233-1993
替代情況：
發(fā)布單位： 中國(guó)電子工業(yè)總公司
起草單位： 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 等
發(fā)布日期： 1993-02-09
實(shí)施日期： 1993-05-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2025年06月12日
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內(nèi)容摘要

本檢定規(guī)程規(guī)定了IMPACT-I型半導(dǎo)體分立器件測(cè)試系統(tǒng)的檢定條件、檢定項(xiàng)目、檢定方法、檢定結(jié)果處理及檢定周期。


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