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紅外探測器用碲錫鉛晶片測試方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號： SJ 20438-1994
替代情況：
發(fā)布單位： 電子工業(yè)部
起草單位： 中國電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院 等
發(fā)布日期： 1994-09-30
實施日期： 1994-12-01
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更新日期： 2025年06月05日
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本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了紅外探測器用碲錫鉛(Pb1.xSaxT。)單晶片的電學(xué)參數(shù)、結(jié)構(gòu)參數(shù)和組分的測試方法。

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