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痕量水分儀校準規(guī)范

標 準 號： JJF(京) 156-2024
替代情況：
發(fā)布單位： 北京市市場監(jiān)督管理局
起草單位： 北京市計量檢測科學研究院
發(fā)布日期： 2024-05-16
實施日期： 2024-07-01
點 擊 數：
更新日期： 2024年07月11日
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內容摘要

本規(guī)范適用于光腔衰蕩光譜法(CRDS)和可調諧半導體激光吸收光譜法(TDLAS)原理以及其他光學原理的痕量水分儀的露點溫度、體積比參數的校準。


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