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俄歇電子能譜術(shù)和Ｘ射線光電子能譜術(shù)的樣品處理標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào)： SJ/T 10458-1993
替代情況：
發(fā)布單位： 電子工業(yè)部標(biāo)準(zhǔn)化研究所 等
起草單位： 天津電子材料研究所
發(fā)布日期： 1993-12-17
實(shí)施日期： 1994-06-01
點(diǎn) 擊 數(shù)：
更新日期： 2024年08月20日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)導(dǎo)則規(guī)定了樣品在表面分析前、表面分析過程中及表面分析后的處理細(xì)則。


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