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電子陶瓷用二氧化鋯中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法

標(biāo) 準(zhǔn) 號(hào): SJ/T 10553-2021
替代情況: 替代 SJ/T 10553-1994
發(fā)布單位: 中華人民共和國(guó)工業(yè)和信息化部
起草單位: 中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究院
發(fā)布日期: 2021-03-05
實(shí)施日期: 2021-06-01
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更新日期: 2023年12月08日
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內(nèi)容摘要

本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了電子陶瓷用二氧化鋯中雜質(zhì)的發(fā)射光譜分析方法。本標(biāo)準(zhǔn)適用于電子陶瓷用二氧化鋯中鐵、硅、磷、鈣、鎂和鈦的氧化物雜質(zhì)測(cè)定的中型攝譜儀方法。

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